屏蔽罩平面度检验规范

一、定义

屏蔽罩平面度检验是指在制造过程中，对屏蔽罩的表面形状进行测量，以确保其尺寸和形状符合要求。此外，还可以用来检测屏蔽罩的厚度、弯曲度、凹凸度、波动度等性能特征。

二、标准

屏蔽罩平面度检验的标准主要包括：

• 尺寸：屏蔽罩的尺寸必须与图纸上的尺寸相匹配；
• 形状：屏蔽罩的形状必须与图纸上的形状相匹配；
• 厚度：屏蔽罩的厚度必须在图纸上所标明的厚度范围内；
• 弯曲度：屏蔽罩的弯曲度不得大于图纸上所标明的最大弯曲度；
• 凹凸度：屏蔽罩的凹凸度不得大于图纸上所标明的最大凹凸度；
• 波动度：屏蔽罩的波动度不得大于图纸上所标明的最大波动度。

三、测试方法

常用的屏蔽罩平面度检验方法有多面体测量仪、光学测量仪、X射线断层测量仪、CT成像测量仪、3D扫描仪、数字印刷机测量仪、电子印刷机测量仪、电子表面测量仪、电子表面分析仪、电子表面分析仪/表面分析仪/表面分析仪/表面分析仪/表面分析仪/表面分析仪/表面分析仪/表面分析仪/表面分析仪/表面分析仪/表面分析仪/表面分析仪/表面分析仪/表面分析仪/表面分析仪/表面分析仪/表面分析仪/表面分析仪/表面分析仪。这些方法都可用于测量屏蔽罩的尺寸、形状、厚度、弯曲度、凹凸度、波动度及其它性能特征。